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Equotip 550 Portable Rockwell硬度計(jì)測(cè)試儀

型號(hào)：

Equotip 550 Portable Rockwell硬度計(jì)測(cè)試儀測(cè)量原理沿用傳統(tǒng)的洛氏硬度靜態(tài)檢測(cè)法，該方法非常適用于對(duì)刮擦敏感的、拋光的或細(xì)小的部件，以及對(duì)剖面和管道進(jìn)行檢測(cè)。

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實(shí)驗(yàn)室儀器設(shè)備

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詳細(xì)介紹

Equotip 550 Portable Rockwell硬度計(jì)測(cè)試儀是便攜式硬度檢測(cè)功能齊全的體化解決方案。 Portable Rockwell 測(cè)量原理沿用傳統(tǒng)的洛氏硬度靜態(tài)檢測(cè)法，該方法非常適用于對(duì)刮擦敏感的、拋光的或細(xì)小的部件，以及對(duì)剖面和管道進(jìn)行檢測(cè)。

結(jié)合 Equotip Leeb 沖擊裝置，Equotip 550 可利用里氏硬度原理沿用動(dòng)態(tài)（回彈）法。這將能夠在現(xiàn)場(chǎng)自動(dòng)將 Leeb 關(guān)聯(lián)至 Portable Rockwell 的實(shí)際壓痕硬度值。

新代 Equotip 觸摸屏裝置提供由行業(yè)專(zhuān)精心設(shè)計(jì)的界面，提高了檢測(cè)效率和改良用戶(hù)體驗(yàn)。改進(jìn)的軟件可提供互動(dòng)向?qū)?、自?dòng)驗(yàn)證進(jìn)程、個(gè)性化選項(xiàng)和自定義報(bào)告功能。此外，該儀器可兼容后續(xù)開(kāi)發(fā)產(chǎn)品。

全彩顯示屏使您能夠執(zhí)行高質(zhì)量的測(cè)量和對(duì)已測(cè)得數(shù)據(jù)進(jìn)行分析。特殊設(shè)計(jì)的外殼適于惡劣的現(xiàn)場(chǎng)使用環(huán)境。

迄今為止，Proceq 的 Equotip 已經(jīng)成為全球廣泛認(rèn)可的測(cè)量技術(shù)和行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。 Equotip 裝置完全滿(mǎn)足眾多行業(yè)對(duì)無(wú)損硬度檢測(cè)的要求。

Proceq是專(zhuān)門(mén)制造高品質(zhì)便攜式無(wú)損檢測(cè)材料特性測(cè)試儀器的公司。 Proceq 在瑞士設(shè)計(jì)和制造其產(chǎn)品，而其研發(fā)團(tuán)隊(duì)不斷將新產(chǎn)品投入市場(chǎng)，為該行業(yè)設(shè)立了新標(biāo)準(zhǔn)。這瑞士公司在北美和南美、英、俄羅斯、中東地區(qū)、中和東南亞都設(shè)有子公司，為其際客戶(hù)提供本地支持。 Proceq 屬于Tectus Group。

Equotip 550 Portable Rockwell硬度計(jì)測(cè)試儀

以 HRC 和 HV 為單位的測(cè)量可自動(dòng)轉(zhuǎn)換為 HB、HRA、HRB 以及更多符合 ASTM E140 和 ISO 18265 標(biāo)準(zhǔn)的通用單位
高準(zhǔn)確度 ± 0.8 μm (~ ± 1.0 HRC) 全部測(cè)試范圍
不受材料和樣品尺寸影響，快速獲取可復(fù)制的金屬硬度值
微小的檢測(cè)負(fù)載只產(chǎn)生微米的穿透深度
探頭利用特的測(cè)量夾和支撐腳，可以對(duì)各種幾何體進(jìn)行檢測(cè)
先進(jìn)的算法選項(xiàng)，讓測(cè)量更快捷
探頭可直接連接至 PC

Equotip 550 Portable Rockwell硬度計(jì)測(cè)試儀 Touchscreen Unit

模塊化概念：利用各種型號(hào)的探頭和配件靈活配置各種行業(yè)應(yīng)用
組合法：在現(xiàn)場(chǎng)自動(dòng)將 Leeb 關(guān)聯(lián)至 Portable Rockwell 的實(shí)際壓痕硬度值
引導(dǎo)向?qū)В?預(yù)定義工作流以增強(qiáng)進(jìn)程可靠性和提高測(cè)量準(zhǔn)確度
自動(dòng)驗(yàn)證：根據(jù) ISO 16859 和 ASTM A956 逐步驗(yàn)證
互動(dòng)指南：通過(guò)屏幕通知為您的應(yīng)用獲取相關(guān)的設(shè)置
轉(zhuǎn)換曲線(xiàn)：直接在儀器上創(chuàng)建、編輯和驗(yàn)證轉(zhuǎn)換曲線(xiàn)
自定義報(bào)告：模塊化報(bào)告處理器允許自定義測(cè)量報(bào)告
自動(dòng)選項(xiàng)：將 NDT 自動(dòng)操作集成至質(zhì)量管理系統(tǒng)和自動(dòng)檢測(cè)環(huán)境
外殼經(jīng)過(guò)特殊設(shè)計(jì)，可用于嚴(yán)苛的現(xiàn)場(chǎng)環(huán)境 (IP 54)，包括背帶、集成支架和遮陽(yáng)蓋
高分辨率彩色顯示屏
電池使用時(shí)長(zhǎng) > 8h
8 GB 閃存
雙核處理器，支持各種通信接口和外圍接口：探頭連接器、USB 主機(jī)、USB 裝置和以太網(wǎng)
通過(guò)直接兼容后續(xù)開(kāi)發(fā)產(chǎn)品，實(shí)現(xiàn)未來(lái)保護(hù)投資

應(yīng)用

可準(zhǔn)確檢測(cè)從非常柔軟的材料到非常堅(jiān)硬的材料的金屬硬度
壁厚小于等于 2 毫米的細(xì)小部件、剖面和管道、薄片、卷曲金屬以及厚度為 0.2 毫米（0.008 英寸）的部件，取決于硬度別
檢測(cè)對(duì)刮擦敏感的表面或拋光表面
在焊縫附近受熱區(qū)域的金屬硬度檢測(cè)

Proceq 提供些附件，例如個(gè)測(cè)量夾或幾個(gè)支撐腳，適合在各種測(cè)試件結(jié)構(gòu)上進(jìn)行手動(dòng)硬度測(cè)量

標(biāo)準(zhǔn)

DIN 50157

準(zhǔn)則

DGZfP Guideline MC 1
VDI / VDE Guideline 2616 Paper 1

儀器:
顯示屏	7” 彩色顯示屏 800 x 480 像素
內(nèi)存	內(nèi)置 8 GB 閃存（可存儲(chǔ)多達(dá) 1000000 個(gè)測(cè)量值）
區(qū)域設(shè)置	公制和英制單位，支持多種語(yǔ)言和時(shí)區(qū)
電池	鋰聚合物，3.6 V、14.0 Ah
電池使用時(shí)長(zhǎng)	> 8h（標(biāo)準(zhǔn)操作模式下）
電源輸入	12 V +/-25 % / 1.5 A
重量（顯示裝置）	大約 1525 g（含電池）
尺寸	250 x 162 x 62 mm
高海拔	2500 m 海拔高度
濕度	< 95?%RH，非冷凝
操作溫度	0°C 至 30°C（32 至 86°F）（正在充電且儀器正在運(yùn)行） 0°C 至 40°C（32 至 104°F）（正在充電且儀器關(guān)閉） -10°C 至 50°C（14 至 122°F）（未充電）
環(huán)境	適合室內(nèi)與室外使用
IP 等	IP 54
污染等	2
安裝類(lèi)別	2
Equotip Portable Rockwell 探頭:
尺寸	112.5 x o 42 毫米（4.4 x o 1.6 英寸）
重量	260 克（9.17 盎司）
電源	通過(guò) USB（5 V，高 100 mA）
測(cè)量范圍	0-100 μm；19-70 HRC；34-1080 HV
測(cè)量精度	1.5 HRC，參考 DIN 50157
分辨率	0.1 μm；0.1 HRC；1 HV
檢測(cè)方向	任意方向（不需要校正）
檢測(cè)負(fù)載	10 N / 50 N（探頭 50 N）
金剛石壓頭	角度 100.0° +/- 0.5°
操作溫度	0°C 至 50°C（32 至 122 °F）
濕度	非冷凝，高 90%