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PIPS II 精密離子減薄儀

設備簡介：

一代PIPS™離子減薄系統(tǒng)樹立了透射電鏡（TEM）制樣的行業(yè)標準已超20年，而全新一代PIPS II 精密離子減薄儀基于一代PIPS 有了根本性的升級。

PIPS II 精密離子減薄儀包含了 WhisperLok®，能對減薄樣品進行準確定位。10英寸觸摸屏簡單易用，提高對減薄區(qū)域的精度控制和減薄過程的可重復性。

配備的數(shù)碼變焦顯微鏡系統(tǒng)可以實時監(jiān)測減薄過程，同時可將獲取的彩圖存儲于DM軟件中，用于與樣品在TEM中成像對比。

性能優(yōu)點：

• WhisperLok系統(tǒng)及X-Y可調(diào)樣品臺：可對樣品感興趣區(qū)域進行對中重復減薄
• 低能量聚焦離子槍：改進的低能量范圍的性能可用于FIB樣品的表面清掃
• 能量從 0.1 keV到 8 keV可調(diào) : 低能范圍的性能提升可以減少非晶層
• 液氮冷臺：去除熱效應產(chǎn)生的樣品損傷
• 10英寸彩色觸摸屏控制：簡單易用的控制圖形用戶界面
• 數(shù)碼變焦顯微鏡系統(tǒng)：實時監(jiān)測減薄過程
• DM軟件存儲彩圖：可以使用同TEM和EELS數(shù)據(jù)相同的格式儲存光學顯微圖像

應用：

• 半導體
• 金屬（氧化物，合金）
• 陶瓷

技術(shù)規(guī)格：

訂貨編號：LR-200635